技术编号：26956779
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。一种基于位mcu芯片测试的智能探针卡技术领域.本发明涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种基于位mcu芯片测试的智能探针卡。背景技术.在集成电路(ic)的制程中，探针卡是在集成电路尚未封装前，应用在测试在晶圆上集成电路。通常探针卡是电连接于一测试机(tester)，以及包括集成电路等的一受测物(dut，device under test)。经由探针卡而达到集成电路上每个针脚(pad)与测试机的稳定连接，以筛选出不良品而测知集成电路的良率后，再进行封装。由于探针卡是监督成品良率一项关键工具...
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