技术编号：2712011
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种液晶显示面板及测试其的探针，特别是涉及一种适用于降低测试成本及重复测试液晶显示面板的液晶显示面板及测试其的探针。背景技术 一般在制作液晶显示器的前段过程中，使用外延的方法在一基板上形成数百万颗的薄膜晶体管以作为控制单元，然而，若有部分的薄膜晶体管在制作时质量不如预期，导致无法表现出其开关控制特性，则会产生如亮点及暗点的缺陷，大幅的降低液晶显示器的质量。因此，必须有效率的对薄膜晶体管进行测试，以维持液晶显示器的质量。请参考图1，为公知的液晶显示...
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