技术编号：2714822
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。一种基于FPM的光场显微方法，包括以下步骤搭建基于FPM的光场显微平台；用基于FPM的光场显微平台采集高分辨率广视野的图像；对得到的高分辨率广视野图像进行视角分离；利用视角分离的结果重聚焦获得想要得到的结果。本发明使用基于FPM算法的光场显微镜来采集光场信息，提高了光场显微镜中每一个微透镜成像的分辨率，提高了角度分辨率，从而丰富了采集到的光场信息，使得物体能重建更好的三维结构。专利说明基于FPM的光场显微方法 [0001]本发明属于显微成像、计算机视...
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