双重图形光刻对准方法技术资料下载

技术编号:2717720

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本发明公开了一种,通过在第二硬掩模层形成多个浅槽,并在第二硬掩模层和第一硬掩模层形成多个深槽,由此形成浅槽和深槽间隔而设的深度不同的对准标记,以增强对准标记的信号强度,易于被采集到。本发明较佳地通过调整两个硬掩模层的厚度,控制浅槽和深槽的深度,以使得浅槽和深槽在深度-信号强度正弦波一个周期波峰的两侧,并使其信号强度相同,以进一步增强信号强度,更易于被采集到。本发明尤其适用于硬掩模厚度较小、对准标记深度有限的双重图形工艺情况。专利说明 [0001]本发...
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