技术编号：2734034
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种能容易地检测高频光的半导体装置，且涉及一种光检测方法。背景技术在相关技术中，光检测器(photodetector )通过累积金属氧化物半导体 (MOS )晶体管的体(body )中的双光子吸收(two photon absorption, TPA ) 产生的载流子且检测所累积的量来确定光的存在。在这样的光检测器中，光 检测基本通过将器件在三种模式之间切换来实施，该三种模式为数据删除模 式、凄史才居捕获才莫式禾口凄丈据才全观'J才莫式(参考Te...
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