技术编号：2736686
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。背景技术(a) 发明领域本发明涉及一种用于测试平板显示器的系统及其方法。更具体 地，本发明涉及一种用于测试平板显示器的系统和方法，所述系统 和方法能够通过分析光谱而为各个像素确定缺陷或次级，所述光谱 分别穿过周期性地排列在平板显示器上的多个像素。(b) 相关技术说明通常，平板显示器可能包括液晶显示器(LCD)、等离子显示器 (PDP)、有机电致发光显示器(OLED)和场致发射显示器(FED )。液晶显示器已经得到最积极的研究，因为其具有高分辨率并且其 具有...
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