技术编号:27423284
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。.本申请总体来说涉及一种测试装置,具体而言,涉及一种测试台。背景技术.暗电流存在于光感测器(例如光电倍增管、光电二极管及感光耦合元件),为没有光子通过光感测器时,元件中仍然存在的微小电流。暗电流在所有二极管中都存在,暗电流中形成的原因是元件中耗尽层这个电子以及空穴随机产生造成的,来自元件内部的热噪声。虽然二极管理论上具有正向导通、反向截止的特性,但现实中二极管元件在反向时不能做到真正的截止,因此暗电流无法完全消除。暗电流一般很小,基本在ua和na量级,但是在工业领域,暗电流属于必测项,该测试...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。