一种增强光学掩模分辨率及制造高分辨率光学掩模的方法技术资料下载

技术编号:2753745

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本发明涉及微纳米加工,尤其涉及。背景技术为充分利用廉价而且业以成熟的光学曝光手段满足微纳米加工的需要,如何提高现有光学曝光系统的实用分辨率,成为研究的热点。八十年代前期人们只局限于在曝光设备上进行开发,八十年代后期则进一步在抗蚀剂方面加紧研究(包括光致抗蚀剂曝光反差增强技术(CEL);光致抗蚀剂化学增幅技术和多层抗蚀剂技术等)。到了九十年代,主攻方向进入以相干曝光技术为代表的“光技术革命”时代,利用控制光学曝光过程中的光位相参数,产生光的干涉效应,部分抵消...
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