技术编号：2754419
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。一种全光纤位移测量方法及装置所属领域本发明涉及激光干涉测量领域，特指一种全光纤位移测量方法及装置，能在工厂车间等恶劣环境下使用。背景技术在构建本构关系、物态方程和进行激光冲击强化、激光冲击成形和层裂等研究时， 获取材料在高应变率载荷作用下的各种动态响应特性是关键研究问题。考虑到埋入式传感 器会对被测对象的性质及产生的冲击波等产生干扰，一般采用光学的方法进行精密的非接 触式实时测量。申请号为CN200510022172.X的中国专利“一种全光纤位移干涉仪”通...
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