技术编号：27615848
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本发明涉及数据处理技术领域，具体而言，涉及一种基于电子元件性能数据的检测方法及系统。背景技术.在电子元件的生产侧，一般会在电子元件的生产完成之后，且在投入市场之前，对电子元件的性能进行测试，以确定电子元件的性能是否存在异常，如在异常时可以销毁对应的电子元件或进行重新的改良等。.因此，对电子元件的性能测试的结果就需要具有较高的精度。但是，经发明人研究发现，现有技术中，一般都是基于对电子元件自身的检测数据进行简单的分析，如阈值比较等，以确定电子设备的性能是否存在异常，如此，就导致对电子设备的...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。