技术编号：2765879
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种测量各种介质的折射系数的方法，以及实施这种方法的装置。为此目的，利用了在一个边界层金属介质中的表面等离子体的激发，以及谐振条件对该层，或邻接该金属层的涂层体系的折射系数的依赖关系。更确切地讲，本发明涉及到利用光纤发射和派生信号。本发明的可能的应用在于用于测量物理，化学和生物量值的光纤传感器的结构，上述量值可以利用折射系数的变化而间接地测出。多年来已经对SPR传感器进行了大量的研究。有关这方面的研究首先是从常用的具有一个固体玻璃棱镜的Krets...
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