技术编号：2770201
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种可适用于各种显微镜的透过照明装置。背景技术 目前，提出了相位差观察法、微分干扰观察法、调制对比度法、偏斜照明法等，以使无色透明的各种相位标本可视化并使其可观察。上述相位差观察法是在显微镜的照明光学系统的光瞳位置配置环形缝隙、在位于与环形缝隙共轭的位置的成像光学系统的光瞳配置与环形缝隙共轭的形状的相位膜的观察法。该观察法的长处是即使对结构间的折射率小的标本或细胞的颗粒状的微小结构等，也可以高的检测感度得到具有鲜明的对比度的观察像。与此相对，该观...
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