技术编号：2774924
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及用于实现正相位对比的一种相位环。背景技术 此显微的相位对比方法是从Zernike起公开的。为了实现此方法通过将一个或多个薄层汽相渗镀到(例如由光学玻璃制的)一个衬底基体上来制作所谓的相位环。通过巧妙选择层厚成功地相对于绕射光的(也就是未穿过相位环的光束的)相位将直接光的(也就是穿过汽相渗镀的相位环的那个光束的)相位例如延迟π/2、或者前移π/2。在后者的情况下涉及一种所谓的“正”相位对比。发明内容本发明的任务在于提供一种相位环，用此相位环实现具有...
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