技术编号：2777343
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及权利要求1的前序部分的光学测斜仪，权利要求13的前序部分的装置倾斜度测量方法，以及具有这种测斜仪的大地测量装置，补偿振动和/或统计波动的方法以及权利要求20的前序部分的用于光学测斜仪的波前探测器。背景技术 长期以来，不同结构类型的测斜仪被应用于必须考虑装置的位置的各领域。它特别适合于在大地测量领域或建筑业进行测量。通常，在这种类型的现有技术的光学测斜仪中，将液体表面定位在光学子系统的光瞳中。通过作为介质的液体产生从辐射源入射的辐射的相移，在反射或...
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