技术编号：2786413
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及全息位相差放大，特别是一种全息位相差放大重构装置，它能广泛用于各种光学波面、光学元件的检测。背景技术 目前，在光学精密加工和测量领域，国内外普遍采用干涉法来测量光学元件波面，可测精度为λ/30～λ/60(λ为波长)，而实际需要达λ/100，远远不能满足需要；另一方面，国内几乎所有的高质量干涉仪都是从国外进口的，其价格在45万美元～100万美元之间不等，这严重制约了我国工业、国防和国民经济的发展。无论在工业、国防、生产等直接应用领域，还是在理论论证...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。