技术编号：2788384
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及一种方法和装置，用于测量具有在厚度方向均匀的双折射率Δn的双折射体的厚度，诸如，包括在液晶显示元件中的经准直处理的液晶层。在极宽的领域中，利用液晶显示元件作为显示器，由于它们具有较小的功率损耗、较小的尺寸，以及重量较轻。近年来，尤其是反射型彩色液晶显示元件已经进入实际使用，对它的需求快速增长。这里分别描述反射型彩色液晶显示器、传统的反射型液晶显示器以及传统的传输型液晶显示器的相应的特征。如在图20中所示，传统的传输型液晶显示器111包括由一对透明...
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