技术编号：2798734
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及相衬成像。具体而言，本发明涉及用于相衬成像装置的光栅、包括这种光栅的相衬成像装置以及制造用于相衬成像装置的光栅的方法。背景技术为了利用电磁辐射检查感兴趣对象，可以使用可见或不可见光或X射线。X射线微分相衬成像(DPCI)使通过扫描对象的相干X射线的相位信息可视化。除经典X射线透射成像之外，DPCI不仅确定了扫描对象沿投影线的吸收性质，而且确定了透射的X射线的相移，从而提供了变量的额外信息，其可用于对比度增强、材料组成或减小剂量。最近，瑞士Vill...
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