技术编号：2800448
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及光学元件设计，更具体地说，涉及一种滤光片及红外探伤仪。背景技术红外探伤仪是利用红外探测器、红外光源等光学设备检测透过晶体材料(如晶体硅)的红外光线，分析红外光损失，最终实现对硅材料内的杂质、裂纹、空洞、微晶区等缺陷的分析及精确定位。其红外光源的最外部安装有滤光片，用于过滤除红外光线以外的其他不同波长的干扰光线，以保证测试结果的准确性。现有的红外探伤仪的滤光片采用特制的玻璃基板制备而成，为了保证能够较好的过滤其他干扰光(一般为测试环境中的可见光...
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