技术编号：2806357
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明属于光学仪器系统领域，主要用于光学与激光工程、光学与激光实验中光束准直的检测。光束准直检测中现有的方法有(1)用平行平板作为剪切干涉仪观测零场干涉图形的存在与否作为评判光束准直的依据(Appl.Opt.3.1964，531-534);日本公开专利JP52-57839(1977年5月12日)中也提到这种剪切方法。(2)用多个角锥棱镜列阵的干涉法(Appl.Opt.9.1970，2590-2593)。(3)用拼接双楔板剪切干涉仪或拼接双光栅干涉仪(Opt...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。