技术编号：2811364
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及三阶相关仪，特别是一种用于飞秒激光系统输出脉冲对 比度测量的双延迟光路的三阶相关仪，。背景技术随着啁啾脉冲激光放大技术(以下简称CPA)的发展，小型化超强 超短激光技术日益成熟。将光电探测器和示波器结合起来，直接测量对 比度的方法，已经满足不了飞秒激光脉冲对比度的测量。为了满足超强 超短激光脉冲技术和测量方法的同步发展，新的测量技术不断得到发展。在CPA系统中，激光脉冲是一个展宽、放大、压縮的过程，在这个 过程中，除了高功率峰值的主脉冲以外，还有...
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