技术编号：2815462
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及液晶显示(LCD)器件，具体地说，涉及一种易于精确地测定LCD器件缺陷位置之地址标记的改进。在检验模式期间，为了容易地精确测定缺陷位置，为栅极总线(公用电极线)和信号总线设置多个地址标记(参见JP-A-2000-147549)。下面将此进行详细的描述。然而，在上述已有技术的LCD器件中，存在如下的问题。第一，当通过瞬间放电将静电荷转移给一个地址标记时，由于地址标记被电绝缘，从而地址标记被熔化，这将导致由于尘土带来的缺陷。第二，如果每个地址标记都用...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。