技术编号：2818242
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明是一种TFT LCD可编程综合性能电测仪及其检测方法，属于TFT LCD可编程综合性能电测仪的改造技术。 背景技术目前，现有TFT LCD在生产过程中不能达到100%的成品率，或多或少 地存在缺陷，比如LCD点不亮、存在亮点或亮线等缺陷，因此，在把LCD贴 上IC制成LCM模组之前，需要对LCD进行加电驱动信号进行检测，减少IC 的浪费及降低成本。TFTLCD屏主要由背光源、玻璃基板、电路层、液晶层、滤光板及配向 膜等材料构成。而最可能产生缺陷的就在...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。