技术编号:28215424
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。.本实用新型涉及芯片检测技术领域,尤其设计一种检测结构和芯片检测机构。背景技术.在芯片的检测过程中,经常需要通过检测设备对芯片进行检测,在检测的过程中,检测设备经常需要更换位置,在相关技术中,检测设备上往往需要设置多套驱动设备,已完成对检测设备不同角度的驱动,从而使得检测设备可以完成不同位移的移动,这种结构不仅浪费驱动件,增加制造成本,还增加了检测设备的负载,使得其移动不方便,造成其移动减速,降低检测效率。实用新型内容.本实用新型旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此,本实用新型提...
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