技术编号:28504405
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。.本发明涉及晶片检测设备技术领域,具体为晶片边缘轮廓测试仪。背景技术.晶片边缘轮廓测试仪是基于机器视觉的最新的无键测量设备,能够替代传统的卡尺等工具,实现高效准确的测量,晶片边缘轮廓测试仪的基本工作流程为:连接好相机,打开光源,启动软件,将待测产品放置于检测平台上,采集一张图像,然后配置检测步骤,设置输出项,再为输出项设定比例系数、补偿系数、公差等参数,设置完成后,点击开始检测,更换产品,程序自动实时检测,输出结果,按下空格键记录数据,测完产品后,可以进行统计分析和输出报表。.现有的晶片边...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。