技术编号：2852299
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。为了在质谱分析中解决由于落在一次射束的阴影下的凸凹表面的阴影部分导致的发射离子的分布与测量对象表面上的物质分布相互不同的问题，本装置的一次离子光学系统（12）包括被配置为以一次离子在飞行的过程中与二次离子的飞行空间相交的方式偏转一次离子的偏转单元（7）。专利说明质谱仪[0001]本发明涉及通过电离测量对象的至少一部分并测量离子来执行质谱分析的质谱仪。背景技术[0002]近来，特别是在病理研究和药物开发的领域中，作为用于检测测量对象表面上的物质分布的方法，“...
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