技术编号：2853170
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。一种基于飞行时间质谱的原位程序升温脱附分析装置，该装置包括进样口，电离室，离子源和原位热解装置，质量分析器，接收器，数据系统，供电系统及真空系统；进样口直接引入离子源和原位热解装置中，离子源和原位热解装置在电离室中，电离室紧靠质量分析器；接收器在质量分析器中，通过数据线与数据系统相连，在电离室和质量分析器中加入真空系统。该装置可以探测样品升温脱附过程中产生的自由基与反应中间体，质谱分辨率可达到5000，具有分辨率高、检测速度快、小型便携的优点。适用于过程气...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。