技术编号：2869094
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明提供了一种样品台及显微镜系统，所述样品台适用于电子背散射衍射式的工作模式和透射式电子衍射的工作模式，样品台包括支撑架、及装配在所述支撑架上的样品槽；其中，支撑架包括支撑台、及支撑杆；支撑杆与支撑台连接，支撑台与支撑杆成142度。使用所述样品台时，将其固定在二次电子显微镜的载物台上，并使支撑杆与载物台成90度。通过将支撑台与支撑杆设计成两者之间成142度，且支撑杆与载物台成90度的结构，在样品台装载样品进行测试分析时，通过调整载物台的倾转和/或旋转，即...
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