技术编号：2892098
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本实用新型涉及对一种进口大型精密分析测试仪器的功能开发，尤指一种辉光放电离子源质谱接口装置。背景技术辉光放电离子源质谱(G匿S)技术，由于分析灵敏度高、检测限低，分析准确度好，测定的动态范围宽，能作多元素快速分析、对各种元素的响应较均一、采用相对灵敏度因子(RSF)校正、可实现少标样或无标样分析等优点，已被业界公认为目前对固体导电材料进行痕量及超痕量元素分析的最有效的分析技术之一。在超纯半导体材料、耙极材料、高纯金属及合金的直接固体分析中占据着重要的位置。...
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