技术编号：2908474
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。本发明涉及。本申请与下述日本专利申请相互关联。对于承认引用文献内容可组合在申请中的指定国家，下述申请所记载的内容通过引用方式组合在本申请中，并构成为本申请记载内容的一部分。日本专利申请2000-125103申请日平成12年4月26日对于使用电子束长度测量装置实施长度测量的场合，通常是通过使电子束产生方向偏转并在长度测量对象上实施扫描的方式实施测量的，然而电子束长度测量装置在长时间使用时，电子束的方向偏转量会相对于预先设定的值产生偏差，从而难以实施正确的长度...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。