技术编号:29091185
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。一种dft测试装置、测试系统以及测试方法技术领域.本发明涉及数字电路领域,尤其涉及一种dft测试装置、测试系统以及测试方法。背景技术.目前,随着集成电路的高速发展,芯片集成度越来越高,导致逻辑规模和工作模式也越来越复杂,基于芯片级的可测试性设计(design for test,缩写为dft)就越来越重要。.在现有的dft测试方案中,业界通过对时钟门控(clock gating)的测试使能端(test enable,缩写为te)的处理,能够在不损失测试覆盖率的前提下,提高测试效率,减少测试时...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。