技术编号:29409619
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。.本发明涉及集成电路测试领域,具体为一种集成电路测试装置。背景技术.集成电路是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺,把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起,制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上,然后封装在一个管壳内,成为具有所需电路功能的微型结构;对集成电路进行检测的过程中对不合格的样品进行标记,从而避免封装成本的浪费。.对集成电路测试现有技术存在很多测试焊点的装置,但是在实际的情况下,集成电路板会存在变形的情况,电路板不水平会导致测试焊点长度的精度不准。发...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。