技术编号：29424264
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本申请涉及有限元分析技术领域，尤其涉及一种多层膜元件热应力分析方法、系统和终端设备。背景技术.多层膜单色器在国内外众多同步辐射装置，例如中国的bsrf、nsrl、ssrf，日本的spring-，法国的esrf，美国的aps等均被广泛应用。当多层膜元件表面吸收高热负载时，会产生较大变形，多层膜元件由于膜层材料和基底材料的热膨胀系数不同，膜层中会产生非常大的热应力，这对膜层的安全产生不利的影响。为了对多层膜结构的性能以及使用寿命进行预测，可以采用有限元方法进行模拟分析，但是由于多层膜结构的高...
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