用于ct指数测量的笔型电离室的制作方法技术资料下载

技术编号:2967584

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本实用新型涉及一种电离室,尤其涉及一种用于CT指数测量的笔型电离室。背景技术在CT扫描机的校准检测中,需要测量CT机(计算机断层扫描)释放的X射线产生的剂量、剂量率、重复性、CTDI值(计算机断层扫描剂量指数)。通常用电离室探测器进行测试,并要求该探测器高灵敏度、宽能量响应、高稳定性、大灵敏体积。现有的用于CT指数测量的笔型电离室是柱形结构,柱内壁固定有高压极(阴极),柱的中心轴位置安放有金属丝收集极(阳极),在收集极和高压极之间充满空气。工作时,通过外接...
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  • 高老师:1.电力电子及应用 2.嵌入式系统应用