技术编号：29693996
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。一种x光射线光源在x光机检测仪中的衰减检测方法技术领域.本发明涉及x光检测技术领域，尤其涉及一种x光射线光源在x 光机检测仪中的衰减检测方法。背景技术.x光机检测仪的无损检测原理是利用射线透过物体时会发生吸收和散射的特性，通过测量材料中因缺陷存在影响射线的吸收来探测缺陷的。在现有的硬件技术条件下，x射线源长时间使用不可避免地会出现衰减的现象。而x射线由于x光衰减，用于接收图像的平板探测器接收到的图像也会跟着变化，那么此时再使用先前设定好的图形算法参数去检测元器件，极有可能造成误判和漏判，导致...
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