一种等离子体设备的制作方法技术资料下载

技术编号:2970506

提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。

本实用新型涉及一种半导体器件,且特别涉及一种等离子体设备。 背景技术目前IC(集成电路)制造周期很长,从产品下线到出厂长达数十天,站别数百 步,流程非常复杂,其中也有很多步骤几乎是重复而成。总的来说,主要有以下步骤 光刻,刻蚀,离子注入,成膜等等。其中,对于刻蚀及成膜步骤,等离子体工艺的运用 非常广泛,尤其干法刻蚀方面。等离子体是除物质固、液、气态之外的第四态,由大量 的分子、原子、离子、电子和自由基等构成,呈近似电中性(正负电荷数目大体相等), 由于等离...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。

详细技术文档下载地址↓↓

提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
该分类下的技术专家--如需求助专家,请联系客服
  • 高老师:1.电力电子及应用 2.嵌入式系统应用