技术编号：29815019
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本发明涉及光学测试领域，进一步的，涉及一种多样品光致发光测试装置，尤其涉及一种可对现有温控腔内的多个样品进行光致发光测试的装置。背景技术.在荧光光谱测试中，通过对样品在不同温度或不同气氛环境(即：测试环境中所充入的气体)下的荧光强度及荧光寿命变化进行测试，是常用的一种分析手段。变温测试为从最低温度条件下逐渐升温，并对样品进行测试，当在测试过程中需要更换样品时，样品环境会遭到破坏，将更换后的样品放入预设测试位置后，为达到相同的样品环境，则需要重新对样品环境进行抽真空，并进行降温，不同的样品环...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。