技术编号：30066282
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本发明涉及薄膜材料泊松比的几何测量技术领域，具体为一种薄膜材料泊松比的非接触几何测量法。背景技术.薄膜材料广泛应用于机械设计、航空航天、装备制造、医疗仪器等众多领域，例如，乙烯-四氟乙烯共聚物薄膜以其良好的透光性和延伸性成为一种应用广泛的透明建筑材料，薄膜材料的力学表征对其结构的可靠性和安全性评估起到至关重要的作用。随着电子及生物材料的发展，作为结构件的薄膜会受到相当大的拉伸或弯曲应力，材料的变形及泊松比变化会对整个构件的力学性能起到决定性的作用。.传统测试材料应变及泊松比的方法为接触式...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。