技术编号：30087809
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本发明涉及一种测定电路的特性的电路特性测定系统及电路特性测定方法。背景技术.一直以来都有测定片上电源节点的电源阻抗的方法(例如参照非专利文献)。根据非专利文献，使用电流源而通过灌吸(sink)从电流源向电源节点流通矩形波电流，测定电源节点上的实效功率，根据所述实效功率，可以测定电源节点的电源阻抗。.现有技术文献.非专利文献.非专利文献：一种片上电源阻抗分析技术，年美国电气电子工程师协会第届亚洲测试研讨会，masahiro ishida、toru nakura、aki...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。