技术编号:30185116
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。.本发明涉及存储器测试技术领域,尤其涉及一种眼图测试方法、系统、设备及介质。背景技术.相关技术中,随着集成电路的发展,制成越来越微缩,集成电路的密度越来越高,速度越来越高,动态随机存储器颗粒的一致性和信号完整性的要求也越来越高。当前的眼图测试需要使用高速示波器,然而一台高速示波器的操作上较为复杂且容易发生失误,导致测试结果的准确性较低。发明内容.本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此,本发明提出一种眼图测试方法、系统、设备及介质,能够提高存储器测试结果的准确性。.根据本发明...
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