技术编号:30383375
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。.本发明涉及计算机信息领域,具体涉及一种测试数据压缩及解压方法。背景技术.在信息时代,各行各业都离不开电子设备,而集成电路芯片是一切设备的核心,在集成电路生产过程中,测试是不可或缺的流程,它对生产成本有很大影响。在测试中,测试时间是影响生产成本的因素之一,因此如何减少测试时间、降低测试成本是芯片行业一直关注的问题。.随着集成电路的发展,芯片持续向更小的外形尺寸发展,同时集成度也越来越高,这大大增加了测试难度和测试成本。为了减少测试成本,对测试数据进行压缩是一种常见方法。基于编码的测试数据压...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
该类技术注重原理思路,无完整电路图,适合研究学习。