技术编号：30383378
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本发明涉及计算机信息领域，具体涉及一种测试数据压缩及解压方法。背景技术.测试是计算机信息领域必不可少的流程，集成电路芯片也不例外。测试在集成电路芯片生产过程中的地位越来越高，测试时间过长会提高测试成本，因此如何减少测试时间，降低测试成本是芯片行业从业者和科研人员都十分关注的问题。.随着集成电路的发展，芯片的集成度越来越高，这大大增加了测试难度和测试成本。为了减少测试成本，采用编码的方式来无损压缩测试数据是一种常见的手段，常见的编码压缩方法有golomb，哈夫曼编码，fdr，efdr，af...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。
该类技术注重原理思路，无完整电路图，适合研究学习。