技术编号：30396957
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。一种p型半导体材料专用测试探头技术领域：.本发明属于半导体材料测试领域，是一种p型半导体材料专用测试探头。背景技术：.半导体材料研制、实验、加工中，经常会用到针半导体材料测试仪，也称霍尔效应测试仪，用于测试研制出半导体材料属于p型空穴导电材料，还是n 型电子导电材料；测试电子或空穴浓度多高，迁移率多大，导电率多大等参数。霍尔效应测试仪所用探针一般是金属材料制成，这种金属材料制成的探针，适用于测试电子导电的n型半导体材料。因金属是电子导电材料，与电子导电的n 型半导体材料同类型，探针与n型材...
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