技术编号:30583502
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。.本发明涉及射频检测技术领域,特别涉及一种用于检测射频设备性能的测试平台及射频检测电路。背景技术.目前,射频产品(待测射频设备)在生产及研发过程中都需要采用射频仪器进行射频性能的测试,但是,由于常用的射频仪器基本由几大仪器公司生产,由于生产射频仪器的类型及生产厂家都会有差异。.因此,在射频产品在生产完成后或者在使用一段时间后,一般会人为对射频设备进行测试,但是,人为测试往往会造成测试效率低下等的问题,导致不能有效的对射频设备的性能进行检测。.因此,本发明提出一种用于检测射频设备性能的测试...
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