技术编号：30619462
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本申请涉及继电器领域，特别是涉及一种降低继电器泄漏电流的方法、电路、装置及介质。背景技术.随着半导体行业的快速发展，半导体厂家对器件测试的需求越来越多，精度要求也越来越高。在某些产品的测试应用中，需将多种信号源接至一个产品上以实现产品的多种参数测试，此时需要使用继电器的矩阵开关来实现多信号的切换。在对测试精度要求较高的场景中，一般电流精度需要达fa级别，由于继电器的各触点之间以及触点与线圈之间并非理想的完全绝缘状态，而是存在一定的泄漏电流，会直接影响测试的精度，因此需要降低继电器的泄漏电流...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。