技术编号:31024593
提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。.本发明属于电子学领域,具体涉及一种测量介质导体沉积界面微波表面电阻的装置及方法。背景技术.无源器件是微波器件的重要组成部分,介质导体沉积界面的微波表面电阻反映导体的损耗,进而影响着无源器件的性能。导体沉积在不同的介质上时,其与介质沉积面的微波表面电阻是不同的,因此获得介质导体沉积界面准确的微波表面电阻,对无源器件的高精度设计来说非常重要。.国内外目前普遍采用谐振法对单导体的微波表面电阻进行测量,比较常见的有空腔谐振器法、平行板谐振器法、微带线谐振器法以及介质谐振器法(曾成,罗正祥,张其劭...
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