技术编号：31052304
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本发明涉及岩体测量技术领域，特别涉及一种基于双像解析的岩体结构面产状测量方法。背景技术.岩体结构面是岩体工程研究中的一项重要内容。结构面三要素包括：走向、倾向和倾角。目前，地质罗盘作为常规的岩体结构面产状测量方法，但容易受到磁场干扰，导致测量结果不准确，并且与岩面的近距离接触存在很大安全风险。此外，地质罗盘适用于出露面积较大的结构面，但在一些地下工程如交通隧道或地下矿山巷道开挖中，普遍存在结构面出露面积非常小，仅呈现出一条结构面迹线的情况，此时无法将地质罗盘紧密地贴合在结构面上。通常的处理...
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