技术编号：31085512
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本发明涉及薄膜生产检测设备技术领域，具体为一种微纳米光学薄膜研发用承压曲张检测设备。背景技术.微纳米光学薄膜在经济建设和发展中得到了广泛的应用，获得了科学技术工作者的日益重视，光学薄膜按应用分为反射膜、增透膜、滤光膜、光学保护膜、偏振膜、分光膜和位相膜，光学反射膜用以增加镜面反射率，常用来制造反光、折光和共振腔器件，光学增透膜沉积在光学元件表面，用以减少表面反射，增加光学系统透射，又称减反射膜。.经检索，国家专利公开号为cna公开了微纳光学薄膜研发用膜体承重曲张检测装置...
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该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。