缺陷检测方法及装置、电子设备和存储介质与流程技术资料下载

技术编号:31607630

提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。

.本公开涉及计算机视觉技术领域,尤其涉及一种缺陷检测方法及装置、电子设备和存储介质。背景技术.在工业领域中,工业产品在生产、制造和维护的过程中可能会出现工业缺陷,例如汽车的冲压件的垫伤、划痕、锈蚀等缺陷。为了保证工业产品的正常使用,可以对工业产品进行工业缺陷检测。.基于工业产品的拍摄图像进行检测是工业缺陷检测的重要方式之一。相关技术中,工业产品的拍摄图像通常是在工作场景的光照环境中拍摄的彩色图像,这类彩色图像进行缺陷检测的方案,会比较适合于缺陷十分明显,在不同的光照条件下,都可以将缺陷清晰...
注意:该技术已申请专利,请尊重研发人员的辛勤研发付出,在未取得专利权人授权前,仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权,增加技术思路,做技术知识储备,不适合论文引用。
请注意,此类技术没有源代码,用于学习研究技术思路。

详细技术文档下载地址↓↓

提示:您尚未登录,请点 登 陆 后下载,如果您还没有账户请点 注 册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
该分类下的技术专家--如需求助专家,请联系客服
  • 李老师:1.计算力学 2.无损检测
  • 毕老师:机构动力学与控制
  • 袁老师:1.计算机视觉 2.无线网络及物联网
  • 王老师:1.计算机网络安全 2.计算机仿真技术
  • 王老师:1.网络安全;物联网安全 、大数据安全 2.安全态势感知、舆情分析和控制 3.区块链及应用
  • 孙老师:1.机机器人技术 2.机器视觉 3.网络控制系统
  • 葛老师:1.机器人技术 2.计算机辅助技术
  • 张老师:1.内燃机燃烧及能效管理技术 2.计算机数据采集与智能算法 3.助航设备开发