技术编号：3164932
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。 本发明属于数控装置的测试装置，具体涉及一种数控装置技术指标的检测分析装置。 背景技术 目前对数控装置的技术指标以及其各个模块功能的综合评价，一般采用在数控机床上直接加工包含各种几何特征的综合试件，用最终加工的试件的几何尺寸来评判数控装置的性能。然而影响最终试件几何尺寸精度的因素很多，除数控装置本身的技术指标外还有位置伺服系统误差、机床机械精度、测试用量具量仪的误差等。因此，通过在机床上加工试件不能准确地评定数控装置自身的技术指标。进一步说，因为采取的...
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