技术编号：31671839
提示：您尚未登录，请点 登 陆 后下载，如果您还没有账户请点 注 册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。.本申请涉及探头校准技术领域，特别一种复合探头校准方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。背景技术.随着科技水平的不断提高，集成电路正在朝着更加小型化、高频化和高密度化的方向发展，该技术在给人们的生活带来便利的同时，也解决了其电磁可靠性的问题。针对上述问题，相关标准中规定的近场扫描法是检测电磁可靠性的有效诊断方法。近场探头是近场扫描中重要的组成部分之一，复合探头是近场探头中十分具有优势的探头类型，但是其在应用过程中往往面临非对称性的问题，因此解决其非对称性问题，是保障获取更加精准的...
注意：该技术已申请专利，请尊重研发人员的辛勤研发付出，在未取得专利权人授权前，仅供技术研究参考不得用于商业用途。
该专利适合技术人员进行技术研发参考以及查看自身技术是否侵权，增加技术思路，做技术知识储备，不适合论文引用。